日本理學(xué)波長(zhǎng)色散XRF
德國(guó)蔡司掃描電鏡
蔡司工業(yè)CT與三維掃描儀
德國(guó)斯派克能量色散XRF
德國(guó)斯派克直讀光譜儀
德國(guó)斯派克ICP
絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
物理材料實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
標(biāo)準(zhǔn)樣品
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威爾遜 Rockwell 2000洛氏硬度計(jì)
Rockwell 2000系列具有最高的深度測(cè)量精度和分辨率，因此，能提供業(yè)界領(lǐng)先的重復(fù)性和再現(xiàn)（GR&R性）。 -
福祿克Raytek? Compact MI3 紅外測(cè)溫探頭/高溫計(jì)-華普通用
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測(cè)的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。 -
功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)DT10-華普通用
專業(yè)測(cè)試SiC及Si基IGBT、MOSFET動(dòng)態(tài)時(shí)間參數(shù)特性，測(cè)試范圍可達(dá)3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開(kāi)發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓 -
BUCHI Pure 制備色譜系統(tǒng)-華普通用
Pure色譜儀非常的緊湊，確保最高水平的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。 -
德國(guó)SPECTRUMA GDA 150 HR輝光放電質(zhì)譜儀
GDA 150 HR和GDA 650 HR GDOES光譜儀是用于質(zhì)量控制和研究的強(qiáng)大工具，旨在處理全天候工作，同時(shí)保持良好的可維護(hù)性。GDA 150 HR主要用于研究您的導(dǎo)電樣品，在分析性能方面絲毫不遜于其兄弟GDA 650 H -
德國(guó)SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀
GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是最強(qiáng)大的GDOES光譜儀，非常適合研發(fā)任務(wù)。基于模塊化概念，可以設(shè)想多種選項(xiàng)組合，因此可以為您的應(yīng)用實(shí)現(xiàn)最佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導(dǎo)電樣品。GDA 7